新しい白色光干渉計であるinterferoMETER IMS5200-26THシリーズは、1～100マイクロメートルのフィルムやガラスなど透明な層の厚みをナノメートルの精度で測定することができます。最大24 kHzの測定レートを誇る新しい白色光干渉計は、真空中で使用できますので半導体の製造やコーティングプロセスにおける動的な測定タスクに適しています。

eddyNCDT 3005は、高精度かつ高速な変位測定用に設計された強力な渦電流式センサシステムです。コンパクト設計、高い温度安定性、堅牢な構造により、eddyNCDT 3005は産業用測定タスクやオートメーションソリューションに最適です。

新型の色共焦点コントローラconfocalDT IFC2411および IFC2416では、距離と厚さを高精度に測定できます。コンパクトで堅牢なコントローラは、測定精度と測定速度において新しい基準を打ち立てます。高い光強度と25kHzの測定レートにより、要求の厳しい測定にも適しています。最新のインターフェースは、産業環境への迅速な統合を可能にします。

combiSENSOR KSB6430は、2つの異なる測定原理を組み合わせて、それぞれの利点を正確な厚み測定に利用します。センサの測定範囲は5 µmから3 mmにまでおよび、非常に薄い被膜にも厚い被膜にも対応します。ハウジングには渦電流式変位センサと静電容量式変位センサが搭載されています。これにより、非接触で片側から高精度な厚み測定を可能としています。