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長距離レーザーセンサ
お客様ごとのカスタマイズセンサ
thicknessSENSOR
共焦点式センサ
コンフィギュレータ
共焦点クロマティックセンサ
confocalDT IFD2411
confocalDT IFD2410/2415
confocalDT IFC2421/22
confocalDT IFC2465/66
付属品
干渉計(白色光)
interferoMETER 5400-DS
interferoMETER 5400-TH
interferoMETER 5600-DS
IMS5420-TH ウェーハ厚さ測定システム
レーザー距離センサ
optoNCDT ILR1030/1031
optoNCDT ILR1171
optoNCDT ILR2250
インダクティブセンサ(LVDT)
induSENSOR DTD プローブ
induSENSOR DTAゲージヘッド
induSENSOR DTAセンサ
induSENSOR LDR
クランピングストロークセンサ
MSC7x0xコントローラ
induSENSOR EDS
お客様ごとのカスタマイズセンサ
磁気誘導センサ
mainSENSOR MDS-35/-45
mainSENSOR MDS-40-MK
mainSENSOR MDS-40-LP
お客様ごとのカスタマイズセンサ
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統合とOEM向けワイヤセンサ
工業用途向けワイヤセンサ
高速での測定用ワイヤセンサ
メカニクス
産業用センサ
回転数センサ
回転数センサ
赤外線温度センサ
熱探知カメラ(TIM)
汎用パイロメーター
レーザー照準器搭載パイロメーター(CTLaser)
内蔵コントローラ搭載パイロメーター(CS)
スポットファインダー搭載パイロメーター(TIM 8)
波面計測/光学部品計測
SHSLab
SHSInspect
SHSOphthalmic
カラー測定システム・カラーセンサ・LEDアナライザー
コンパクトで正確なカラーセンサシステム
高精度なインラインカラー測定システム
LEDアナライザー
光ファイバーセンサ
コントローラ optoCONTROL CLS1000
センサCFS
インターフェース・算出処理ユニット
IC2001/USB
C-Box/2Aコントローラ
デュアルプロセッシングユニット
IF1032/ETH
IF2001/USB
IF2004/USB
IF2008/PCIE
IF2008/ETH
産業用Ethernet用IF2035
2D/3D 計測技術
3Dセンサ
surfaceCONTROL - 3Dスナップショットセンサ
reflectCONTROL - 反射表面のために
3Dレーザースキャナ scanCONTROL
3DInspect software
ソフトウェア統合
インダストリアルパフォーマンスユニット
光学式精密マイクロメータ
optoCONTROL 1200
optoCONTROL 2520
optoCONTROL 2700
レーザープロファイルスキャナ
Configurator
scanCONTROL 25x0
scanCONTROL 29x0
scanCONTROL 30x2
scanCONTROL 30x0
ソフトウェア
オプション & 付属品
計測システム
精密な厚さ測定のためのセンサシステム
thicknessGAUGE 3D
thicknessGAUGE C.LL
thicknessGAUGE C.C
thicknessGAUGE C.LP
thicknessGAUGE O.EC
電池生産用の検査システム
電極箔用の高性能測定システム thicknessCONTROL
電極箔用のthicknessGAUGE コンパクト型Cフレーム
セパレータ箔用のthicknessGAUGE コンパクト型Oフレーム
その他の応用分野
アプリケーション
産業分野
付加製造技術
航空宇宙産業
オートメーション
自動車
電池生産
電子機器生産
エネルギー技術
ガラス
半導体
プラスチック
塗装検査
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