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セパレータ箔用のthicknessGAUGE コンパクト型Oフレーム

セパレータ箔および電池被覆の厚み測定用のコンパクトなセンサシステム

セパレータ箔の被覆の安定した厚み測定には、thicknessGAUGE O.IMSが使用されます。このシステムはコンパクトなOフレームで構成されており、電池箔上を横断する白色光干渉計を使用しています。厚さ測定は、革新的なテクノロジーによって、片側から非接触で実行されます。2本の搬送ローラがストリップを安定させます。

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特徴

  1. 応用センサ技術:白色光干渉計
  2. インライン厚み測定用のコンパクトなオールインワン・ソリューション
  3. 被覆なし・被覆ありの電池箔およびセパレータ箔の高分解能厚み測定に最適
  4. 1,250 mmまでの材料幅
  5. システム精度±0.2 µmの最高精度を実現する安定した構造
  6. トラバース測定または固定トラック測定
  7. 全自動キャリブレーション
  8. データ収集、信号処理、自動化用の包括的なソフトウェアパッケージを同梱
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Micro-Epsilon Japan K.K.
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被覆されたあらゆる電池箔とセパレータ箔に最適

thicknessGAUGEは、例えば中心線測定(中心厚)やエッジ部の厚み測定といった固定トラック測定に使用することができます。また、このセンサシステムはトラバース厚み測定にも使用できます。その汎用性により、thicknessGAUGEは間欠式フィルムにも縦方向被覆フィルムにも使用することができます。

被覆厚みの正確な測定

コンパクトなthicknessGAUGEセンサシステムは、セパレータ箔の被覆厚み測定に使用できます。白色光干渉計が装備されたこのセンサシステムは、プラスチック箔の薄い被覆をサブマイクロメートル精度で検知します。

パワフルな解析・制御ソフトウェア

コンパクトなシステムは、モータ制御を含む一体型リニアユニット、コンパクトなバス端子箱、自動キャリブレーション装置、ソフトウェアがプリインストールされたマルチタッチPCで構成されています。このソフトウェアは、例えば任意の位置での固定トラック厚み測定、厚みプロファイルの測定、複数の縦方向トレンドの測定、SPCパッケージ、自動化されたテスト機器性能の監視など、様々な測定モードを可能にします。