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surfaceCONTROL - 3Dスナップショットセンサ

Micrometer precision for large measuring ranges

surfaceCONTROL - 3Dスナップショットセンサ

High resolution 3D snapshots

マットな物体の幾何学・形状・表面検査用3Dセンサ

surfaceCONTROLのセンサは表面の3D測定や検査に使用されます。このセンサは、フリンジ光投影の原理を利用して拡散反射する表面を捉え、3D点群を生成し、この点群を評価することにより表面の幾何学的形状や最小の欠陥、不連続性を検出します。マイクロエプシロンは測定面の異なる様々なセンサをご用意しているので、どんな微細な部品構造でも、面積が広大な付加部品の形状の狂いでも、確実に検査することができます。評価やパラメータ設定に使用する高性能なソフトウェアパッケージもご提供しています。

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特徴

  1. ジオメトリ・形状・表面の3D測定のための自動インライン検査
  2. 連続プロセスモニタリング
  3. 様々な形状欠陥を検出
  4. 偏差の客観的評価
  5. 包括的なSDKと評価用ソフトウェア
  6. 一般的な3D画像処理パッケージへ簡単に統合可能
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Micro-Epsilon Japan K.K.
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マイクロエプシロン3D-SDKを介したソフトウェア接続

surfaceCONTROLのセンサには、組み込みが簡単なSDK(ソフトウェア開発キット)が備わっています。このSDKは業界標準のGigE VisionとGenICamをベースにしており、以下の機能ブロックなどがあります:

  • ネットワーク設定とセンサへの接続
  • 豊富なセンサコントロール
  • 計測データ(3Dデータ、ビデオ画像など)の伝送制御
  • ユーザー定義のパラメータセットの管理
  • C/ C++/ C#ライブラリ、サンプルプログラムとドキュメント

また、GigE Visionを介したセンサへのアクセスは、GenICam対応のソフトウェアを使えばSDKなしでも可能です。

Valid3D - 信頼性の高い3Dデータ

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