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reflectCONTROL - for shiny surfaces

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特徴

  1. 反射表面や光沢表面の検査
  2. 微細な欠陥や偏差の識別
  3. 安定した再現性での識別率
  4. 高精度な測定、サブミクロン単位の平面度偏差
  5. 170x160 mmの広大な測定フィールド
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Micro-Epsilon Japan K.K.
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鏡面反射する表面の3D測定用デフレクトメトリセンサ:RCS 130-160 3D HLP

特徴:

  • 測定領域 170 x 160 mm
  • 反射率の高い平面測定向け
  • 2次元底面強度、振幅、曲率画像の出力
  • 高精度高さ測定のための3D点群出力

鏡面部品の表面検査:RCS 110-245 2D

コントローラ一体型のreflectCONTROL RCS110-245 2Dは、定置測定や機械への組み込み用に設計されています。このコンパクトなセンサは鏡面反射面の凹凸を検出し、この凹凸をソフトウェアが処理し、反射率と曲率画像として表示することができます。得られた表面画像は、GigE Visionを介して多数の画像処理ソフトウェアパッケージに転送して、さらなる処理を行うことができます。

もちろん、RCS110-245 2Dの機能はすべてreflectCONTROL RCS130-160 3D HLPにも搭載されているので、どちらのセンサも表面検査のための強力なソリューションとなっており、既存のシステムへのシームレスな統合を可能にしています。

Valid3D - 信頼性の高い3Dデータ

マイクロエプシロン3D-SDKを介したソフトウェア接続

reflectCONTROLには組み込みが簡単なSDK(ソフトウェア開発キット)が備わっています。このSDKは業界標準のGigE VisionとGenICamをベースにしており、以下の機能ブロックなどがあります:

  • ネットワークの設定とセンサへの接続
  • 豊富なセンサ制御
  • 測定画像の伝送制御
  • ユーザー定義のパラメータセットの管理
  • C++サンプルプログラムとドキュメント

また、GigE Visionを介したセンサへのアクセスは、GenICamクライアントを使えばSDKなしでも可能です。

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