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scanCONTROL 25x0

大量注文での測定タスクに理想的

産業アプリケーション向けレーザースキャナ

レーザースキャナ scanCONTROL 25x0 シリーズは産業用途での測定タスク向けに設計されており、デザイン、多様性、信号安定性の3つから成るコンビネーションが、とりわけ大量のセンサが必要となる測定タスクで傑出した対費用効果を発揮します。3種類の測定範囲と、保護ハウジングやタイプ別ケーブル、インタフェースコンバータを含む包括的なアクセサリが備わっているので、scanCONTROL 25x0 は製造ラインでのシリーズ統合に最適です。

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特徴

  1. Z軸測定範囲 最大 265 mm
  2. X軸測定範囲 最大 143.5 mm
  3. 測定速度 2000 Hz
  4. 測定レート 1,280,000 プロファイル/秒
  5. Z軸の基準分解能 2 μm~
  6. X軸の分解能 最大 640 ポイント
  7. 高い信号安定性
  8. 優れた対費用効果、シリーズアプリケーションに最適
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Micro-Epsilon Japan K.K.
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