2D/3D 計測技術向けセンサ

surfaceCONTROLのセンサは表面の3D測定や検査に使用されます。このセンサは、フリンジ光投影の原理を利用して拡散反射する表面を捉え、3D点群を生成し、この点群を評価することにより表面の幾何学的形状や最小の欠陥、不連続性を検出します。マイクロエプシロンは測定面の異なる様々なセンサをご用意しているので、どんな微細な部品構造でも、面積が広大な付加部品の形状の狂いでも、確実に検査することができます。評価やパラメータ設定に使用する高性能なソフトウェアパッケージもご提供しています。

reflectCONTROLセンサは、反射率の高い透明な表面で欠陥検出を行うための革新的なソリューションを提供します。reflectCONTROLセンサは位相測定偏向法を利用し、全面測定を可能にしています。人員や作業時間が欠かせない人手による従来の目視検査とは対照的に、reflectCONTROLセンサは正確な測定結果を提供し、表面品質を詳細に分析することができます。評価とパラメータ化を担う強力なソフトウェアパッケージもご用意しているので、表面検査の効率と精度が大幅に向上します。

Micro-Epsilonのレーザスキャナは、2Dおよび3D測定機器おいて最高の性能を発揮します。これらのレーザスキャナは最高の精度と高速性を兼ね備えており、多種多様な産業分野において安定した再現性のある結果を実現します。scanCONTROLモデルでは様々な測定範囲をご用意しており、インライン使用向けに設計されています。簡易プロファイル測定、ロボット誘導、表面検査、あるいは高精度な3D形状検査においても、このレーザスキャナは安定したプロセスを実現するための高精度な測定データを提供します。

新製品：scanCONTROL 8500シリーズは、内蔵されたSMART評価機能によって最高の性能を発揮します。これらのレーザスキャナは、精緻な4Kマトリックスと最先端のGreen Laser技術により、卓越した精度、高い信号安定性、そしてクラス最高の測定レートで高い評価を受けています。

精度を再定義する - Micro-Epsilonのレーザスキャナ

3DInspectは、マイクロエプシロンの3Dセンサ全種類に対応した、ユーザーフレンドリーな統一ソフトウェアツールです。3Dセンサのパラメータ設定と測定データの取得は、3DInspectソフトウェアから直接行うことができ、強力なツールにより、点群のアライメントやフィルタリング、関連領域の直感的な検出と選択、プログラムの組み合わせが行えます。3D点群はさらなる処理を行ったり、検出された測定値をコントローラに出力することができます。

マイクロエプシロンの3Dセンサには、組み込みが簡単なSDK（ソフトウェア開発キット）が備わっています。このSDKは業界標準のGigE VisionとGenICamをベースにしており、以下の機能ブロックなどがあります：

• ネットワーク設定とセンサへの接続
• 豊富なセンサ制御
• 測定画像の送信制御
• ユーザー定義のパラメータセット管理
• C++ サンプルプログラムおよびドキュメント

GigE Vision経由でのセンサへのアクセスは、GenICamクライアントを使えばSDKなしでも可能です。

インダストリアルパフォーマンスユニットは、マイクロエプシロン3Dセンサのセットアップを効率的に行うための強力なコンピュータプラットフォームです。このコントローラは、3D測定タスクを解決するための完全な互換性とインライン機能を提供し、Valid3Dテクノロジーを搭載した直感的な3DInspectソフトウェアにより、センサのパラメータ設定が簡単かつ迅速に行えるので、すぐに測定を開始することができます。3Dデータはインダストリアルパフォーマンスユニット上で直接処理され、3DInspectを介して評価と査定が行われます。結果の出力には、統合されたインターフェースのPROFINET、EtherCATやEtherNet/IPが利用可能です。 

3Dプロファイルユニットでは、scanCONTROL 30xxセンサによる複数の個別プロファイルを共通の座標系で計算することができます。この機能により複合2Dプロファイルや複合3D点群の生成が可能となっているので、様々な形状のキャプチャや測定範囲の拡張、厚さ測定が行えます。センサ位置と測定対象位置の正確な割り当てはは、内蔵のエンコーダ入力を介して実施されます。

データの評価とシステムのパラメータ化は、3DInspectソフトウェアで行うことができ、3Dプロファイルユニットコントローラは、産業用イーサネット接続と統合された評価機能を備えているため、アプリケーションの制御とPLCへの測定値出力が可能です。また、3Dプロファイルユニットコントローラは、GigEVisionを介して一般的な画像処理プログラムに統合することもできるので、ローデータサプライヤーとしても機能します。

マイクロエプシロンの光学マイクロメータは、透過光方式（ThruBeamマイクロメータ）で動作します。このプロセスでは、送信機で平行光カーテンを発生させて受信ユニットに衝突させます。測定対象物が光ビームに誘導されると光ビームが遮断され、その結果得られた陰影を受光光学系で捉え、測定値として出力します。光学マイクロメータは通常、生産現場での寸法測定、機械のモニタリング、品質保証などに使用されており、直径、隙間、高さ、位置などのサイズを高精度で検知します。