高速かつ高輝度な距離・厚さ測定

2022-06-28

マイクロエプシロンはconfocalDT2465（シングルチャネルタイプ）、confocalDT2466（デュアルチャネルタイプ）の両モデルで、共焦点コントローラに新しい時代を開きました。このコントローラは透明体の高精度距離測定、同期式の両側厚さ測定、多層厚さ測定に使用され、マルチピークタイプは、最大5つの透明な層を検出することができます。厚さ測定では、屈折率などの測定対象物の仕様を保存した材料データベースが利用できます。

この新しいモデルは高い輝度とスピードを特長としており、輝度が高いので最大30 kHzのフル測定レートが多くの表面で最大限に活用されます。暗い場所や粗い場所であっても、このコントローラは極めて安定した測定信号を高速で提供します。

また、このコントローラはconfocalDTシリーズのすべてのセンサと互換性があり、Webインターフェースによる簡単な設定が可能です。測定データは、Ethernet、EtherCAT、RS422、アナログで出力されます。PROFINET、EtherNet/IP経由での出力も可能ですが、これにはオプションのインターフェースモジュールが必要です。

メリット

• ナノメートル領域の分解能
• オートメーションや製造モニタリングに理想的
• 高速表面補正でほぼすべての材料の測定が可能
• 最大30 kHzの高速測定で距離と厚さを測定
• 光度が高いので暗い表面や粗い表面でも高速測定が可能
• 最大5つの透明な層の厚さを同時に測定