白色干渉計のラインアップに加わった新しいinterferoMETER IMP-NIR-TH3/90/IP68センサは、厳しい生産環境用に特別に開発されされました。90°ビーム(ラテラル方向)、保護等級IP68、内蔵エアーパージ機構により、シリコンおよび炭化ケイ素ウェハの厚さ測定をプロセス内で直接かつ高精度に行うことができます。これは、狭い設置場所や、スラリー研削などの高レベルの粒子汚染環境下でも実現可能です。

白色干渉計のラインアップに加わった新しいinterferoMETER IMP-NIR-TH3/90/IP68センサは、厳しい生産環境用に特別に開発されされました。90°ビーム(ラテラル方向)、保護等級IP68、内蔵エアーパージ機構により、シリコンおよび炭化ケイ素ウェハの厚さ測定をプロセス内で直接かつ高精度に行うことができます。これは、狭い設置場所や、スラリー研削などの高レベルの粒子汚染環境下でも実現可能です。

弊社Micro-Epsilon Japan㈱は、4/22(水)~24(金)パシフィコ横浜で開催の レーザーEXPO 2026(OPIE ’26)【小間番号G-37】に出展する運びとなり ましたので、ここにご案内申し上げます。

optoCONTROL 2700は、卓越した精度、高い測定レート、容易な操作性を特徴とするコンパクトで高性能なマイクロメータです。測定範囲が10 mmと40 mmの2つのモデルは、オートメーションや品質保証における幅広い用途に対応しています。このマイクロメータは、直径、ギャップ、セグメント、エッジの高精度な測定をサポートします。能動的な傾き補正により、最大45°まで傾いた物体も正確に検出することができます。