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薄膜の高精度なインライン測定

新しい白色光干渉計であるinterferoMETER IMS5200-26THシリーズは、1~100マイクロメートルのフィルムやガラスなど透明な層の厚みをナノメートルの精度で測定することができます。最大24 kHzの測定レートを誇る新しい白色光干渉計は、真空中で使用できますので半導体の製造やコーティングプロセスにおける動的な測定タスクに適しています。

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eddyNCDT 3005

量産用途向けのコンパクトな変位測定システム

eddyNCDT 3005は、高精度かつ高速な変位測定用に設計された強力な渦電流式センサシステムです。コンパクト設計、高い温度安定性、堅牢な構造により、eddyNCDT 3005は産業用測定タスクやオートメーションソリューションに最適です。

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Konfokal-chromatische Controller confocalDT IFC2411 IFC2416

次世代:高い光強度を持つ共焦点コントローラ

新型の色共焦点コントローラconfocalDT IFC2411および IFC2416では、距離と厚さを高精度に測定できます。コンパクトで堅牢なコントローラは、測定精度と測定速度において新しい基準を打ち立てます。高い光強度と25kHzの測定レートにより、要求の厳しい測定にも適しています。最新のインターフェースは、産業環境への迅速な統合を可能にします。

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LED-Mikrometer optoCONTROL 2700

高要求な測定タスクのためのLEDマイクロメータ

optoCONTROL 2700は、卓越した精度、高い測定レート、簡単な取り扱いを特長とするコンパクトな高性能LEDマイクロメータです。測定範囲は10 mmと40 mmの2つのモデルがあり、オートメーションや品質保証の幅広い用途に対応します。アクティブな傾き補正機能により、対象物が最大45°傾いていても正確に検出できます。

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