マイクロエプシロンの光学式マイクロメータは溶接線の太さをモニタリングするために使用されています。X-Frame測定システムにより連続的な直径試験が実施でき、X-Frameに内蔵された2つのレーザーマイクロメータが、それぞれ高い分解能と測定レートで溶接線の直径を捉えます。X-Frameにより溶接線の太さが異なっていても測定でき、デジタルインターフェースが備わっているので、上位の制御システムへ直接データを出力することが可能です。