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金属ストリップの厚さ測定を行う場合、レーザー三角測量をベースにした光学測定には他の測定方法に比べて多数の利点があります。非接触かつ非磨耗性なだけでなく、材料の特性に関係なくストリップの表面についての精確な幾何学的形状測定が可能です。マイクロエプシロンは、C型フレームタイプとO型フレームタイプで堅固な測定システムをご提供しており、どちらも合金に影響されることなく機能します。