高分解能な光学式精密マイクロメータ

透過型マイクロメータ
optoCONTROL
透過型マイクロメータ

マイクロエプシロンの光学マイクロメータは、透過光方式(ThruBeamマイクロメータ)で動作します。このプロセスでは、送信機で平行光カーテンを発生させて受信ユニットに衝突させます。測定対象物が光ビームに誘導されると光ビームが遮断され、その結果得られた陰影を受光光学系で捉え、測定値として出力します。光学マイクロメータは通常、生産現場での寸法測定、機械のモニタリング、品質保証などに使用されており、直径、隙間、高さ、位置などのサイズを高精度で検知します。

特徴
  • 高い正確性と測定速度
  • 0.1μmからの分解能
  • 0.02mmからの測定対象物(300μmの部分遮光から)
  • 長期間使用できる非磨耗性測定
  • 多くのアプリケーション分野に対応できる様々なモデル

確実な測定を実現する磨耗のない高耐久性構造

すべてのoptoCONTROLレーザーマイクロメータは、ミラーを回転させずに動作するため磨耗が全くありません。光源に搭載された特殊な光学系により、平行なライトカーテンが生成されます。フィルターやレンズといった受光素子の高品質な部品が、マイクロメータの高精度さを可能にしているので、optoCONTROLのマイクロメータは高い精度と信頼性が要求される分野に特に適しています。

多彩な用途に対応

レーザーマイクロメータは、主に生産ラインでの生産管理や品質監視に使用され、連続した材料と単一部品の両方を測定します。optoCONTROLファミリーのコンパクトなモデルは、機械や自動生産ラインへの組み込みが行えるのと同様に、生産ラインでの用途にも適しており、その測定レートの高さで生産プロセスにおける継続的かつ高いサイクルレートを実現します。

アプリケーション例

プーリの光学測定
プーリの光学測定
フィルムやゴムストリップの厚さ測定ブラケット
フィルムやゴムストリップの厚さ測定ブラケット
ミシン針のX/Y位置検出用測定システム
ミシン針のX/Y位置検出用測定システム
自動車製造におけるベアリングシェルの検出
自動車製造におけるベアリングシェルの検出
Applications

Micro-Epsilon Japan K.K.
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Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
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