共焦点式変位・距離・位置および厚さ測定センサシステム

confocalDT
特徴
  • 超高分解能かつ測定レートによる距離測定と厚さ測定
  • オートメーションや製造モニタリングに理想的
  • ほぼあらゆる表面で測定可能、鏡面やガラスにも対応
  • 極小かつ安定した光点
  • ナノメーターレベルで精確な分解能
  • 理想的な SN 比かつ工業グレードのコントローラ
  • 受動測定システム
  • NEW:光源が統合された世界最速のコントローラ

ほぼあらゆる表面で正確な変位・距離測定が可能

透明体の厚さを片側から測定

高分解能で素早いコントローラ

ウェブインターフェースを介した簡単な操作

Micro-Epsilon Japan K.K.
#1003 Facade Building, 1-23-43, Esaka-cho,
Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
Yukihiro.Makinae@micro-epsilon.jp
+81 (0)6 6170 5257
+81 (0)6 6170 5258