メインナビに移動 コンテンツに移動 サブナビへ移動

超伝導ストリップの切片測定

電力用途向けの超伝導ストリップの製造には、最高の精度と最大限の材料保護が求められます。通常、幅12 mmのステンレス鋼ストリップはニッケル合金を使用して加工されます。このストリップは、例えば、幅3~4 mmの切片など、わずか0.5 mmの隙間で区切られた複数の細いサブストリップに切断されます。ストリップには敏感なPVDコーティングも施されているため、幅と切片の測定は非接触で高精度に正確に行う必要があります。

最高のプロセス信頼性を実現するリアルタイム品質管理

Micro-Epsilon社のoptoCONTROL 2700-40では、切断直後のストリップをインラインで測定することができます。幅12 mmの連続ストリップが、光学マイクロメータの測定フィールド内で検出されます。プリセット「マルチセグメント」により、全体の幅と個々のサブストリップ幅の両方を正確に測定することができます。セグメント間の0.5 mmの狭い隙間も確実に検出・監視されます。測定結果がリアルタイムで送信されるため、測定値をプロセス制御にすぐに使用することができます。

無駄を最小限に抑えながら最大限の精度を実現

​​​​​​​光学式の高精度マイクロメータは、要求の厳しい切削プロセスおよびコーティングプロセスに多くの利点をもたらします。測定は非接触で行われるため、敏感なニッケルコーティングやPVDコーティングに機械的負荷がかかることはなく、引っかき傷や変形のリスクもありません。同時に、optoCONTROL 2700-40マイクロメータは、最高の精度で高い評価を得ています:10 nmの分解能と0.1 µm以下の繰り返し性により、非常に細いサブストリップも確実に検出するできます。5 kHzの測定レートを誇るセンサは、稼働中のストリップを迅速かつ完全にチェックできるため、偏差が即座に検出され、不良品数が最小限に抑えられます。EtherCAT、PROFINET、Ethernet/IP、アナログ信号といった柔軟なインターフェースにより、このシステムは既存の切断システムおよび生産システムにシームレスに統合することもできます。