光学式測定機器では、振動する測定対象物が大きな課題となります。測定対象物が常に動いているため、検出中に位置が変化し、不明確な結果や誤った結果が生じる場合があります。レーザは動きによってブレたり、測定対象から逸れたりして、反射信号の精度が低下したり、まったく検出できなくなる可能性もあります。

Micro-EpsilonのoptoCONTROL 2700シリーズの光学式精密マイクロメータは、このような用途で高精度に測定するために専用設計されています。サンプリングレートは15 kHz、露光時間はわずか8.5 µsと極めて短く、振動している物体や高速移動する物体も高精度で確実に検出します。

リアルタイムで傾きを補正

受光センサの撮像素子は、一次ラインと二次ラインを介して対象物の正確な配向を捉え、レーザライン中の測定対象物の角度も検出します。内部コントローラは、測定値を測定対象物の傾きに合わせて自動調整します。その結果、正確な測定値が出力され、測定値誤差は生じません。傾き補正は測定レート全体に適用され、外径、ウェブエッジ、輪郭測定用の測定プログラムで使用できます。

optoCONTROL 2700を使用すると、直径、ギャップ幅、エッジ一、セグメント長さといった一般的な測定変数をインラインでの品質管理や機械監視といった高い生産速度条件でも、正確に測定することができます。このシステムは10 mmと40 mmの測定範囲で利用できます。特に注目すべきは、受光センサにコントローラが内蔵されていることです。別置きのコントロールユニットが不要なため、配線や設置の手間が省けます。精密マイクロメータは、内蔵のウェブインターフェースとデジタルインターフェースを介して測定値を出力します。