プロファイルの直径測定

マイクロエプシロンの光学マイクロメータは、金属棒の厚さ監視に使用されます。X-Frame測定システムで直径が連続的に測定され、2台のレーザーマイクロメータがそれぞれ高い分解能と測定速度で直径の測定を行います。X-Frameにより厚さが異なっていても測定でき、デジタルインターフェースで上位の制御システムへ直接データを出力することが可能です。