安全ガラスのギャップモニタリング

安全ガラスの品質点検とプロセス制御には、マルチピークオプションの備わった共焦点クロマティック変位センサが使用されています。マイクロエプシロンの共焦点クロマティックセンサはミクロン精度での厚さ測定を可能にしており、各レイヤー間の境界領域で測定した6つの測定値を評価することにより confocalDT センサは最大5層までのレイヤーを検知します。
安全ガラスの品質点検とプロセス制御には、マルチピークオプションの備わった共焦点クロマティック変位センサが使用されています。マイクロエプシロンの共焦点クロマティックセンサはミクロン精度での厚さ測定を可能にしており、各レイヤー間の境界領域で測定した6つの測定値を評価することにより confocalDT センサは最大5層までのレイヤーを検知します。
Micro-Epsilon Japan K.K.
10F Facade Building, 1-23-43, Esaka-cho,
Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
info@micro-epsilon.jp
+81 (0)6 6170 5257
+81 (0)6 6170 5258