2D/3D プロファイル計測用レーザースキャナ

scanCONTROL
特徴
  • コンパクトサイズの統合評価:外部コントローラは不要
  • 高プロファイル分解能でディテールまで鮮明に検出
  • 動的測定タスクのための高いプロファイルレート
  • パラメータ化と視覚化のための強力なソフトウェア
  • 個々のソフトウェア環境への統合用SDK
  • 長年にわたる年中無休の運用で実証された高い運用安全性

代表的な被測定物:

ブルーレーザースキャナ

コンパクトなプロファイルセンサ

フレキシブルな統合を可能にする4種類のクラス

多様なデータ送信方法

Micro-Epsilon Japan K.K.
#1003 Facade Building, 1-23-43, Esaka-cho,
Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
Yukihiro.Makinae@micro-epsilon.jp
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