幾何学形状および表面検査向け3Dセンサ

surfaceCONTROL 3D 3500

新世代のマイクロエプシロン3Dセンサは、部品や表面の測定・評価において高い精度を発揮します。マイクロエプシロンはマットな表面と光沢表面のどちらにも対応した検査システムをご提供しており、短時間での撮影が可能な3Dスナップショットにより、細部まで忠実に再現された3D点群が得られます。
3Dセンサは、例えば幾何学的な部品検査、位置の決定、存在検査、平坦性や平面性の測定などに使用され、マイクロエプシロンのセンサはその高い性能により、インラインアプリケーションやロボットに搭載されたり、オフラインでの検査にも使用されています。

特徴
  • 精密な幾何学・形状・表面検査
  • 3次元計測・検査のタスクを解決する高性能ソフトウェア
  • 一般的な3D画像処理パッケージへ簡単に統合可能
  • 包括的なSDKと評価用ソフトウェア
  • 微細なディテールを検出する高精度

高精度なインライン検査

マイクロエプシロンの3Dシステムは、マットな表面と鏡面反射表面の両方を対象とした幅広い測定と検査のタスクに使用されます。測定結果は記録して相互に比較することができるので、プロセス改善を行うのに重要な結論を導き出すことができます。マイクロエプシロンの3Dセンサは、オフラインでの使用はもちろん、完全自動運転やロボットに搭載することも可能です。

scanCONTROL

インライン品質検査用3Dレーザースキャナ

scanCONTROL 3Dスキャナは、高精度でのインライン3Dスキャンに使用されています。

scanCONTROL:3Dレーザースキャナ

surfaceCONTROL

surfaceCONTROLセンサは高解像度の表面スキャンを可能にし、欠陥や形状の狂いを高い精度で検出します。

surfaceCONTROL:マットな表面の検査

reflectCONTROLセンサ

reflectCONTROLのセンサモデルは反射表面の検査に使用され、高いxおよびz解像度を実現します。

reflectCONTROL:反射表面や光沢表面の検査

Micro-Epsilon Japan K.K.
10F Facade Building, 1-23-43, Esaka-cho,
Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
info@micro-epsilon.jp
+81 (0)6 6170 5257
+81 (0)6 6170 5258