1. Micro-Epsilon
  2. 2D/3D 計測技術

2D/3D 計測技術向けセンサ

2D/3D プロファイル計測用レーザースキャナ
2D/3D プロファイル計測用レーザースキャナ

scanCONTROL シリーズのレーザースキャナは、精確性と測定レートという点において世界最高峰のプロファイルセンサに数えられ、様々な対象物の表面でプロファイルの検知や測定、評価を行います。現在ご提供しているモデルは多岐にわたる工業用途に適しており、多様な測定タスクも無料の標準ソフトウェアである ...

 

scanCONTROL Compact scanCONTROL High-Speed scanCONTROL Smart gapCONTROL ソフトウェア モデル選択
Catalog scanCONTROL (PDF, 5.08 MB)

直径・ギャップ・エッジ測定のための光学マイクロメーターと光ファイバーセンサ
直径・ギャップ・エッジ測定のための光学マイクロメーターと光ファイバーセンサ

光学マイクロメーターと光ファイバー増幅器は、ギャップや直径、濁度、エッジまたは位置といった値の測定に使用されます。プロファイル、直径、位置、エッジといった品質チェックやプロセス制御で頻繁に測定されるものは、このような測定機器にとって代表的な被測定対象です。

 

測定機能付き光ファイバーセンサ 光学式精密マイクロメーター
2D/3D 計測技術
レーザープロファイルスキャナ 光学マイクロメーター
お問い合わせ

SENTEC Co. Ltd

+81 6 6304 8858

お問い合わせ

Sankyo International Corp.

+81 3 3662 8100

お問い合わせ

{{$select.selected.name}}

Your central contact

{{c.name}}

{{c.name}}

{{c.company}}

{{c.name}}

{{c.fon}}

お問い合わせ

{{c.name}}

{{c.company}}

{{c.fon}}

お問い合わせ

{{c.name}}

{{c.company}}

{{c.fon}}

お問い合わせ

Your regional contact

{{c.name}}

{{c.name}}

{{c.fon}}

お問い合わせ

Sankyo International Corp.
No. 9-14, Nihonbashi-Yokoyamacho,
Chuo-Ku, Tokyo 103-0003 Japan
sales@sankyointernational.co.jp
+81 3 3662 8100
+81 3 3662 8050

Table './statistik/log_web_robots' is marked as crashed and last (automatic?) repair failed