容器ガラス壁の厚さ測定

スターホイール型検知装置でのガラス壁厚さおよび丸さ測定では、プロセスの進行を妨げないために高い測定レートが必須です。マイクロエプシロンの共焦点クロマティック測定システムには高い測定レートと高速露光時間制御が備わっているので、途中でガラスの色に変化があっても厚さを測定することができます。
スターホイール型検知装置でのガラス壁厚さおよび丸さ測定では、プロセスの進行を妨げないために高い測定レートが必須です。マイクロエプシロンの共焦点クロマティック測定システムには高い測定レートと高速露光時間制御が備わっているので、途中でガラスの色に変化があっても厚さを測定することができます。
Micro-Epsilon Japan K.K.
10F Facade Building, 1-23-43, Esaka-cho,
Suita-shi, Osaka 564-0063, Japan
info@micro-epsilon.jp
+81 (0)6 6170 5257
+81 (0)6 6170 5258