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Micro-Epsilon Japan株式会社は10月5日からインテックス大阪で開催される 「関西ものづくりワールド 計測・検査・センサ展」に出展致します。 ブース番号は「20-7」となっております。   弊社ブースでは、アプリケーションをイメージし易いライブデモを中心に、 お客様の課題解決に役立つ製品とソリューションを提供させていただきます。   皆様のご来場を、心よりお待ちしております。   ■ ...

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optoNCDT 1900-6と1900-6LLレーザーセンサは、電池産業でのアプリケーションに最適化されています。測定範囲は6mmで、特にコーティングされた電池箔の厚さを高精度に測定することが可能です。レーザーラインが小さいLLバージョンは、楕円形の光スポットで不均質な表面を補正するため、コーティングされた箔の測定用に特化して設計されています。

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confocalDT 2465、2466シリーズの共焦点コントローラは、高い測定率と輝度が特長です。粗い面や暗い面でも非常に安定した信号で距離や厚さの測定が行えます。この世代のコントローラに新たに加わった機能として、2つのセンサを接続して評価することが可能となりました。マルチピークタイプでは、最大5つの透明な層の厚さを同時に測定することができます。

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マイクロエプシロンの静電容量式センサは、実験室や産業用アプリケーション向けの距離、位置、厚さの測定に最高の精度を提供します。このたび、コンパクトな設計で高精度かつ高分解能な2つの新しいセンサが加わったことで、幅広い製品ポートフォリオがさらに拡大しました。この測定範囲0.1mmのcapaNCDT CSE01と測定範囲0.25mmのCSE025は、世界でも最小クラスの静電容量型変位センサです。

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白色光干渉計のシリーズは、マイクロエプシロンの製品ポートフォリオの中で最も高精度な光学式センサです。このたびinterferoMETERシステムは、マルチピーク仕様としてもお求めいただけるようになりました。最大13層、最小10μmまでの層厚を測定することができ、マルチピーク距離システムを使用することで、距離と厚さの同時測定が可能になりました。厚さ測定システムは一般的に、例えばフィルム製造のストリップ工程など、測定距離が変動する場合でもプロセス安全性の高い多層膜の厚さ測定を実施するために使用されます。

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scanCONTROL 30xxシリーズのレーザープロファイルスキャナ用の新しいファームウェアV53がご利用いただけるようになりました。新バージョンでは特に露光時間を最適化し、露光時間が最大80%短縮されたことでプロファイル測定は最大5倍速で行えるようになったため、高精度な2次元および3次元測定を非常に高いダイナミクスで行うことができます。

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革新的なレーザーセンサであるoptoNCDT 1900は、そのスピード、デザイン、精度のどれにおいても卓越しています。さらにインテリジェントになったこの最新世代のセンサは、EtherCATとインターフェイスが統合されたことにより、センサの全性能をPLCに直接統合できるようになりました。リアルタイムデータを遅延なく取得でき、設置の手間も少なくなっています。

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小型共焦点変位センサconfocalDT IFS2402 は、非常に小さな設置スペースでの測定に使用されます。このたびこのシリーズに測定範囲0.5mmのモデルが追加されました。この新たに加わったIFS2402-0.5 センサは非常に小さなデザイン、ナノメートルの分解能、大きな測定角が特長で、狭い場所や曲面でも正確な距離測定が可能となっています。

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eddyNCDT ES-U1-T、ES-U3-Tが新たに加わったことで、渦電流式インダクティブセンサ製品のラインナップがさらに広がりました。測定範囲は1mmと3mmで、正確な変位と距離の値を得ることができます。センサーはクランプで固定されているため、ケーブルがねじり応力にさらされることはありません。さらに、このセンサはクランプポイントが決まっているため、測定方向の熱膨張を最小限に抑え、高い温度安定性を実現しています。高性能なコントローラとの組み合わせにより、幅広い用途で正確な変位・位置測定を行うことができます。

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マイクロエプシロンのレーザー距離センサoptoNCDT ILR2250は、柔軟性とシンプルな操作性が特長です。IO-Linkを介して一般的なフィールドバスやオートメーションシステムに統合することができ、センサのパラメータも動的に適応させられます。このレーザー距離センサをIO-Linkと共に使用すれば、時間とコストを同時に節約することができます。

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マイクロエプシロンは、共焦点クロマティックセンサの分野で常に強力なラインナップをご提供しています。このたび新たなモデルとして、機械やシステムに柔軟に組み込むことができる90°バージョン、厳しい環境条件に対応する真空センサ、サブマイクロメートルの精度での測定タスクに対応する高精度センサの3種類が加わり、距離測定や厚さ測定の多様性がさらに広がりました。

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白色光干渉計interferoMETER IMS5400に、IMP-TH70センサが新たに加わりました。従来の約2倍の動作距離である70mmを実現すると同時に、チルトアングルも向上しています。分解能が1nm未満なので、極めて薄いガラスやフィルムの高精度な厚さ測定に使用され、アクティブな温度補正とパッシブな冷却により、産業環境においても非常に安定した測定結果を得ることができます。

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