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レーザー三角測量センサoptoNCDT 1900は、EtherCAT、EtherNet/IP、PROFINETに対応しています。コントローラ内蔵でコンパクトサイズな上に、測定レートと測定精度も非常に高いので、幅広い分野で使用することができます。取り付け用アクセサリとWebインターフェースによる直感的な操作コンセプトが、センサの迅速なセットアップを可能にしています。

産業プロセスでの正確な位置、距離、表裏、サイズの検出は、optoCONTROL CLS1000シリーズの高性能光ファイバーセンサが担っています。光ファイバーセンサには5つのバージョンがあるので、様々な要件に最適に適合させることができ、コントロールパネルやOLEDディスプレイ、豊富なティーチインモードにより、コミッショニングが簡単に行えます。

鉄道網や鉄道車両はその利用度の高さから大きな負荷にさらされているため、定期的に点検を行う必要があり、マイクロエプシロンのセンサはスムーズなその点検プロセスに大きく貢献しています。列車や測定車両、検査設備、測定機などにおいて信頼性の高い測定と監視を行い、車輪のタイヤ形状、傾斜角度、振動、レールの形状、車軸軸受の隙間を検出し、高速道路でのリフティング高さやレールの摩耗を確実に監視します。

scanCONTROL 30xxレーザースキャナが役立つ領域がさらに多様になりました。リアテールオプションではケーブルが後部に内蔵されていることで、必要なスペースが約半分に削減されています。さらにブローアウト装置と液冷に接続可能な新しい保護筐体もお求めいただけるので、厳しい産業環境下での測定に最適なレーザースキャナとなっています。

インダクティブプローブinduSENSOR DTDは、自動化されたシリーズアプリケーション向けに設計されています。非常にコンパクトであると同時にエンドユースに合わせたシンプルなデザインなので、センサとコントローラがドラグチェーンに最適化されたケーブルでしっかり接続されており、過酷な環境にも対応できる仕様になっています。システムの調整と校正は工場出荷前に行われ、主に自動での形状・ジオメトリ検査、材料検査、位置決め作業などに使用されています。

非常にコンパクトで高性能なセンサであるレーザーセンサoptoNCDT 1900シリーズは、産業環境に組み込む変位・距離センサとしてのさらなる選択肢を増やしました。EtherCATインターフェイスを内蔵したセンサの他に、EtherNet/IPインターフェイス内蔵のモデルも新たにラインナップに加わり、電池や電子機器の製造、包装機械、ロボットアプリケーションなど、非常に高速なプロセスにおいて特にその強みを発揮しています。

マイクロエプシロンの静電容量式センサを搭載した新しいマウントブラケットは、両面厚さ測定において高精度の測定結果を保証します。センサ同士が互いに向かい合う位置で固定されていて、ブラケットに取り付けることでセンサが恒久的かつ互いに理想的なポジションで配置することができるので、電池や半導体産業で求められる最高の精度が実現されています。

optoNCDT 1900-6と1900-6LLレーザーセンサは、電池産業でのアプリケーションに最適化されています。測定範囲は6mmで、特にコーティングされた電池箔の厚さを高精度に測定することが可能です。レーザーラインが小さいLLバージョンは、楕円形の光スポットで不均質な表面を補正するため、コーティングされた箔の測定用に特化して設計されています。

confocalDT 2465、2466シリーズの共焦点コントローラは、高い測定率と輝度が特長です。粗い面や暗い面でも非常に安定した信号で距離や厚さの測定が行えます。この世代のコントローラに新たに加わった機能として、2つのセンサを接続して評価することが可能となりました。マルチピークタイプでは、最大5つの透明な層の厚さを同時に測定することができます。

マイクロエプシロンの静電容量式センサは、実験室や産業用アプリケーション向けの距離、位置、厚さの測定に最高の精度を提供します。このたび、コンパクトな設計で高精度かつ高分解能な2つの新しいセンサが加わったことで、幅広い製品ポートフォリオがさらに拡大しました。この測定範囲0.1mmのcapaNCDT CSE01と測定範囲0.25mmのCSE025は、世界でも最小クラスの静電容量型変位センサです。

白色光干渉計のシリーズは、マイクロエプシロンの製品ポートフォリオの中で最も高精度な光学式センサです。このたびinterferoMETERシステムは、マルチピーク仕様としてもお求めいただけるようになりました。最大13層、最小10μmまでの層厚を測定することができ、マルチピーク距離システムを使用することで、距離と厚さの同時測定が可能になりました。厚さ測定システムは一般的に、例えばフィルム製造のストリップ工程など、測定距離が変動する場合でもプロセス安全性の高い多層膜の厚さ測定を実施するために使用されます。

scanCONTROL 30xxシリーズのレーザープロファイルスキャナ用の新しいファームウェアV53がご利用いただけるようになりました。新バージョンでは特に露光時間を最適化し、露光時間が最大80％短縮されたことでプロファイル測定は最大5倍速で行えるようになったため、高精度な2次元および3次元測定を非常に高いダイナミクスで行うことができます。